汇丰娱乐线路检测 膜厚仪的基本工作原理与测量模式

膜厚仪的基本工作原理与测量模式

来源:林上科技   发布时间:2019/5/7 13:42:43  浏览:
林上膜厚仪,根据涡流测厚和磁性测厚的测量原理,可在自动识别模式下,自动识别测量的基材,并且快速自动转换测量模式。

  林上科技的膜厚仪又叫膜厚测试仪,符合了(GB/T 4957-2003)中的涡流法以及(GB/T 4956-2003)中的磁性法等相关标准。

  1、其中涡流测厚的原理,是利用高频交变电流在线圈中产生的电磁场,当测头和覆盖层接触时,金属基体上就会产生电涡流。并且会对测头中的线圈产生了反馈的作用,然后通过测量反馈作用的大小来导出覆盖层的厚度。

  涡流测厚原理的膜厚仪,适用于非磁性金属基体上(铜、铝、黄铜等)非导电涂层的测量(如涂料、阳极氧化层等)。如航天航空器表面、车辆等及其它铝制品表面的油漆,阳极氧化膜等。

  2、而磁性测厚的原理,是当测头和覆盖层接触时,测头和磁性金属基体构成的一闭合磁路,由于非磁性覆盖层的存在,会使磁路磁阻发生变化,根据变化就可以测出涂层的厚度。

  磁性测厚原理的膜厚仪,适用于铁磁性金属基体上(钢、铁等)等非磁性涂层的测量。

  林上的膜厚仪LS220结合了涡流测厚和磁性测厚的原理,有铁基测量(Fe)模式,非铁基测量(NFe)模式以及自动识别(Fe/NFe)模式,另外,在自动识别模式下,仪器自动识别测量的基材,并且快速自动转换测量模式。

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